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Webinar | Verbesserung der Produktionseffizienz und Produktqualität

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Die Experten von Kistler führen die Teilnehmenden des Webinars am 30. März durch die Potenziale der dynamischen Kraftmessung in der Halbleiterfertigung.

Die Kistler Gruppe bietet am 30. März von 16 bis 17 Uhr ein Webinar an, das zeigt, wie dynamische Kraftmessmethoden dabei helfen, die Produktionseffizienz und Produktqualität von Halbleitern zu optimieren.

Neue Technologien wie KI, das 5G-Netz oder Industrie 4.0 sorgen für wachsende Anforderungen an die Leistungsfähigkeit von Halbleitern. Das setzt nicht zuletzt die Produktion vor neue Herausforderungen — Qualitätsprüfung und Prozessüberwachung stehen in der Halbleiterfertigung zunehmend im Fokus.

Die Referenten Robert Hillinger, Business Development Manager bei Kistler, und Jim Macy, Application Expert, zeigen den Teilnehmenden, wie sie mit den Kraftmesslösungen von Kistler die mechanische Beanspruchung während der Produktion überwachen, Ausschuss reduzieren sowie ihre Maschinenleistung und Geschwindigkeitsgenauigkeit erhöhen können. Sie erfahren zudem, wie sich mit dem Portfolio von Kistler die anstehenden Herausforderungen in der Fertigung meistern lassen – und wie sie von höherer Prozesstransparenz, geringeren Qualitätskosten und der Rückverfolgbarkeit der Prozessdaten profitieren.

Interessenten können sich hier registrieren. Wer nicht am Webinar teilnehmen kann, ist eingeladen sich trotzdem anzumelden, um anschließend Zugriff auf die Aufzeichnung des Webinars zu erhalten.

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